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高温真空探针台

简要描述：高温真空探针台KT-Z1604TZ，可单选高温或低温等相应组件，温度可达到400℃。以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。

产品型号：KT-Z1604TZ
厂商性质：生产厂家
更新时间：2023-09-18
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详细介绍

品牌	郑科探

高温真空探针台KT-Z1604TZ

真空探针台可实现高真空环境下的高温及低温电学性能测量，真空腔一体成型，具有设计合理，真空度稳定，温控精度及机械精度高等特点；根据测试温度范围不同，可单选高温或低温等相应组件，温度可达到400℃，低温部分采用液氮或液氦冷却组件，温度可低至-196℃，；真空系统可选机械泵或分子泵系统，真空度可达到10^-3Torr或10^-6Tor。

高低温真空探针台应用：

可应用于低温或高温真空环境下被测样品的电学性能测试分析，如：半导体/微电子，电子，机电，物理，化学，材料，光电，纳米，微机电/MEMS，生物芯片，航空航天等科学研究领域，以及IC设计/制造/测试/封装、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生产制造领域。

高温真空探针台KT-Z1604TZ参数

真空腔体
腔体材质	304不锈钢
上盖开启	铰链侧开
加热台材质	304不锈钢
内腔体尺寸	φ160x90mm
观察窗尺寸	Φ70mm
加热台尺寸	φ60mm
观察窗热台间距	75mm
加热台温度	﹣196~350℃
加热台温控误差	±1℃
真空度	机械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa
允许正压	≤0.1MPa
真空抽气口	KF25真空法兰
气体进气口	3mm-6mm卡套接头
电信号接头	SMA转BNC X 4
电学性能	绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤500V
探针数量	4探针
探针材质	钨针
探针尖	10μm
探针移动平台
X轴移动行程	30mm ±15mm
X轴控制精度	≤0.01mm
Y轴移动行程	13mm ±12.5mm
Y轴控制精度	≤0.01mm
Z轴移动行程	13mm ±12.5mm
Z轴控制精度	≤0.01mm
电子显微镜
显微镜类别	物镜
物镜倍数	0.7-4.5倍
工作间距	90mm
相机	sony 高清
像素	1920※1080像素
图像接口	VGA
LED可调光源	有
显示屏	8寸
放大倍数	19-135倍,视场范围15×13-2.25×1.7mm，最小可分辨0.08mm

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