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高温真空探针台

简要描述:高温真空探针台KT-Z1604TZ,可单选高温或低温等相应组件,温度可达到400℃。以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件接触空气所带来的测试结果误差。

  • 产品型号:KT-Z1604TZ
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-05-30
  • 访  问  量:72
详细介绍
品牌郑科探

高温真空探针台KT-Z1604TZ

真空探针台可实现高真空环境下的高温及低温电学性能测量,真空腔一体成型,具有设计合理,真空度稳定,温控精度及机械精度高等特点;根据测试温度范围不同,可单选高温或低温等相应组件,温度可达到400,低温部分采用液氮或液氦冷却组件,温度可低至-196℃,;真空系统可选机械泵或分子泵系统,真空度可达到10-3Torr10-6Tor

 

高低温真空探针台应用:

可应用于低温或高温真空环境下被测样品的电学性能测试分析,如:半导体/微电子,电子,机电,物理,化学,材料,光电,纳米,微机电/MEMS,生物芯片,航空航天等科学研究领域,以及IC设计/制造/测试/封装、LEDLCD/OLEDLD/PDPCBFPC等生产制造领域。

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高温真空探针台KT-Z1604TZ参数

真空腔体

腔体材质

304不锈钢

上盖开启

铰链侧开

加热台材质

304不锈钢

内腔体尺寸

φ160x90mm

观察窗尺寸

Φ70mm

加热台尺寸

φ60mm

观察窗热台间距

75mm

加热台温度

﹣196~350

加热台温控误差

±1

真空度

机械泵≤10Pa   分子泵≤10-3Pa

允许正压

≤0.1MPa

真空抽气口

KF25真空法兰

气体进气口

3mm-6mm卡套接头

电信号接头

SMA转BNC X 4

电学性能

绝缘电阻 ≥4000MΩ   介质耐压 ≤500V

探针数量

4探针

探针材质

钨针  

探针尖

10μm

探针移动平台

X轴移动行程

30mm    ±15mm

X轴控制精度

≤0.01mm

Y轴移动行程

13mm    ±12.5mm

Y轴控制精度

≤0.01mm

Z轴移动行程

13mm    ±12.5mm

Z轴控制精度

≤0.01mm

电子显微镜

显微镜类别

物镜

物镜倍数

0.7-4.5

工作间距

90mm

相机

sony 高清

像素

1920※1080像素

图像接口

VGA

LED可调光源

显示屏

8

放大倍数

19-135倍,视场范围15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm





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