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产品简介
低温真空探针台 广泛应用于半导体工业（芯片、晶圆片、封装器件）、MEMS、超导、电子学、物理学和材料学等领域。为了提高系统的实用性，系统还可以提供3.2K的温度扩展选件、振动隔离装置、LN2杜瓦、高放大倍数的显微镜、分子泵机组、热辐射屏的温度控制装置、探针臂的光纤电缆、光学样品架等选件。
| 品牌 | 郑科探 |
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低温真空探针台是一款为晶片、器件和材料（薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等）提供真空和低温测试条件下进行非破坏性的电学表征和测量平台。可以对材料或器件进行电学特性测量、光电特性测量、参数测量、高阻测量、DC测量、RF测量和微波特性测量，
低温真空探针台广泛应用于半导体工业（芯片、晶圆片、封装器件）、MEMS、超导、电子学、物理学和材料学等领域。为了提高系统的实用性，系统还可以提供3.2K的温度扩展选件、振动隔离装置、LN2杜瓦、高放大倍数的显微镜、分子泵机组、热辐射屏的温度控制装置、探针臂的光纤电缆、光学样品架等选件。
KT-Z1604T探针台主要应用于传感器，半导体，光电，集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
该探针台的承载台为60x60不锈钢台面，台面可升温到350℃。真空腔体设计有进气口和抽真空接口。探针臂为X/Y/Z三轴移动，三个方向均可在真空环境下精密移位调节，其中X方向调节范围：0－30mm；y方向调节范围：0－20mm；z方向调节范围：0－20mm；用户可根据需要自行调节。使用时将需检测的器件固定在加热台上，再微调探针支架X/Y/Z 方向行程，通过显微镜观察，使探针对准检测点后，即可进行检测
真空腔体 | |
腔体材质 | 304不锈钢 |
上盖开启 | 铰链侧开 |
加热台材质 | 304不锈钢 |
内腔体尺寸 | φ160x90mm |
观察窗尺寸 | Φ70mm |
加热台尺寸 | φ60mm |
观察窗热台间距 | 75mm |
加热台温度 | 35-350℃ |
加热台温控误差 | ±1℃ |
真空度 | 机械泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa |
允许正压 | ≤0.1MPa |
真空抽气口 | KF25真空法兰 |
气体进气口 | 3mm-6mm卡套接头 |
电信号接头 | SMA转BNC X 4 |
电学性能 | 绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤500V |
探针数量 | 4探针 |
探针材质 | 钨针 |
探针尖 | 10μm |
探针移动平台 | |
X轴移动行程 | 30mm ±15mm |
X轴控制精度 | ≤0.01mm |
Y轴移动行程 | 13mm ±12.5mm |
Y轴控制精度 | ≤0.01mm |
Z轴移动行程 | 13mm ±12.5mm |
Z轴控制精度 | ≤0.01mm |
电子显微镜 | |
显微镜类别 | 物镜 |
物镜倍数 | 0.7-4.5倍 |
工作间距 | 90mm |
相机 | sony 高清 |
像素 | 1920※1080像素 |
图像接口 | VGA |
LED可调光源 | 有 |
显示屏 | 8寸 |
放大倍数 | 19-135倍,视场范围15×13-2.25×1.7mm，小可分辨0.08mm |
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